Crystallization in Se-Te thin films

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216275%3A25310%2F12%3A39895996" target="_blank" >RIV/00216275:25310/12:39895996 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Crystallization in Se-Te thin films

Popis výsledku v původním jazyce

Crystallization process in Se100-xTex thin films (x = 10, 20) was studied by direct observation of crystal growth by using scanning electron microscopy (SEM) and in-situ X-ray diffraction (XRD). The experimental data were analyzed and described by 2D surface-nucleated model and conventional Johnson-Mehl-Avrami model.

Název v anglickém jazyce

Crystallization in Se-Te thin films

Popis výsledku anglicky

Crystallization process in Se100-xTex thin films (x = 10, 20) was studied by direct observation of crystal growth by using scanning electron microscopy (SEM) and in-situ X-ray diffraction (XRD). The experimental data were analyzed and described by 2D surface-nucleated model and conventional Johnson-Mehl-Avrami model.

Druh

O - Ostatní výsledky

CEP obor

CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/EE2.3.09.0104" target="_blank" >EE2.3.09.0104: Podpora odborného vzdělávání a rozvoje vědeckovýzkumného týmu Centra materiálového výzkumu Pardubice</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů