Noise and scanning by local illumination as reliability estimation for silicon solar cells

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26110%2F01%3APU24205" target="_blank" >RIV/00216305:26110/01:PU24205 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216305:26110/01:PU34160

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Noise and scanning by local illumination as reliability estimation for silicon solar cells

Popis výsledku v původním jazyce

This paper presents two methods, namely those using noise and homogeneity measurements of a large area solar cells, for determining the local defects, which bring down efficiency and long reliability of single-crystal silicon solar cells.

Název v anglickém jazyce

Noise and scanning by local illumination as reliability estimation for silicon solar cells

Popis výsledku anglicky

This paper presents two methods, namely those using noise and homogeneity measurements of a large area solar cells, for determining the local defects, which bring down efficiency and long reliability of single-crystal silicon solar cells.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F99%2F0953" target="_blank" >GA102/99/0953: Šumová a galvanomagnetická spektroskopie materiálů typu II-VI</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2001

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Fluctuation and Noise Letters

ISSN

0219-4775

e-ISSN

—

Svazek periodika

1

Číslo periodika v rámci svazku

1

Stát vydavatele periodika

SG - Singapurská republika

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

"L21"

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—