Článek v angličtině.

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26110%2F05%3APU56285" target="_blank" >RIV/00216305:26110/05:PU56285 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Low-frequency Noise Measurements used for semiconductors light active devices

Popis výsledku v původním jazyce

Three different sets of semiconductors light active devices were by low frequency noise diagnostic described.

Název v anglickém jazyce

Low-frequency Noise Measurements used for semiconductors light active devices

Popis výsledku anglicky

Three different sets of semiconductors light active devices were by low frequency noise diagnostic described.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F04%2F0142" target="_blank" >GA102/04/0142: Šumová spektroskopie pro rychlé nedestruktivní testování kvality, spolehlivosti a životnosti solárních článků</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Noise in Devices

ISBN

0-8194-5839-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

86-93

Název nakladatele

—

Místo vydání

Austin, Texas

Místo konání akce

Praha

Datum konání akce

5. 9. 1999

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—