Lithographic thin–film structures based on Electrochromic materials: Case study by scanning probe microscopy

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26110%2F22%3APU145230" target="_blank" >RIV/00216305:26110/22:PU145230 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://www.eeict.cz/eeict_download/archiv/sborniky/EEICT_2022_sbornik_1_v2.pdf" target="_blank" >https://www.eeict.cz/eeict_download/archiv/sborniky/EEICT_2022_sbornik_1_v2.pdf</a>
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Lithographic thin–film structures based on Electrochromic materials: Case study by scanning probe microscopy
Popis výsledku v původním jazyce
The main object of this study will be based on producing and characterization of lithographic thin–film structures produced based electrochromic materials. Atomic force microscopy will be used as a main method of evaluation the morphology of lithographic structures. The optical properties of eslectrochromic materials will be analyze using scanning near–field optical microscopy by applying different electrical potential.
Název v anglickém jazyce
Lithographic thin–film structures based on Electrochromic materials: Case study by scanning probe microscopy
Popis výsledku anglicky
The main object of this study will be based on producing and characterization of lithographic thin–film structures produced based electrochromic materials. Atomic force microscopy will be used as a main method of evaluation the morphology of lithographic structures. The optical properties of eslectrochromic materials will be analyze using scanning near–field optical microscopy by applying different electrical potential.

Rok uplatnění
2022
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)