original je v anglictine
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26110%2F95%3APU37167" target="_blank" >RIV/00216305:26110/95:PU37167 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00216305:26110/95:PU37166
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Basic Noise Characteristics of the SiO2+Si3N4 Solar Cells
Popis výsledku v původním jazyce
Basic Noise Characteristics of the SiO2+Si3N4 Solar Cells
Název v anglickém jazyce
Basic Noise Characteristics of the SiO2+Si3N4 Solar Cells
Popis výsledku anglicky
Basic Noise Characteristics of the SiO2+Si3N4 Solar Cells
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F04%2F0142" target="_blank" >GA102/04/0142: Šumová spektroskopie pro rychlé nedestruktivní testování kvality, spolehlivosti a životnosti solárních článků</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
1995
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
: International workshop Noise and reliability of semiconductor devices
ISBN
—
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
142
Strana od-do
139-280
Název nakladatele
Brno
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Plzen
Datum konání akce
13. 6. 1995
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—