Možnosti optického profilometru MicroProf FRT při měření kvality povrchu

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F05%3APU54583" target="_blank" >RIV/00216305:26210/05:PU54583 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Potentialities of optical profilometer MicroProf FRT for surface quality measurement

Popis výsledku v původním jazyce

Principle, parameters and selected applications of the optical profilometer MicroProf FRT are presented.

Název v anglickém jazyce

Potentialities of optical profilometer MicroProf FRT for surface quality measurement

Popis výsledku anglicky

Principle, parameters and selected applications of the optical profilometer MicroProf FRT are presented.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA101%2F01%2F1104" target="_blank" >GA101/01/1104: Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

14 th Slovak-Czech Polish Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics

ISBN

0-8194-5951-8

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

—

Název nakladatele

SPIE - The internationalSociety for Optical Engineering

Místo vydání

Bellingham, Washington, USA

Místo konání akce

Nitra

Datum konání akce

13. 9. 2004

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—