Dvouvlnová holografická interferenční mikroskopie pro měření drsnosti povrchu

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F05%3APU54589" target="_blank" >RIV/00216305:26210/05:PU54589 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Digital two-wavelength holographic interference microscopy for surface roughness measurement

Popis výsledku v původním jazyce

A new approach to surface roughness measurement based on the digital two-wavelength holographic interference microscopy with the synthetic wavelength is presented. Two holograms of a rough surface are recorded step by step at two wavelengths of laser light by means of a CCD camera. Both holograms are numerically superposed and then reconstructed. Two reconstructed digital waves obtained numerically interfere. The surface roughness parameters can be determined from the shape of interference fringes in that interferogram created. The range of measurable height irregularities of the surface is given by the synthetic wavelength, which is indirectly proportional to the difference of the selected wavelengths.

Název v anglickém jazyce

Digital two-wavelength holographic interference microscopy for surface roughness measurement

Popis výsledku anglicky

A new approach to surface roughness measurement based on the digital two-wavelength holographic interference microscopy with the synthetic wavelength is presented. Two holograms of a rough surface are recorded step by step at two wavelengths of laser light by means of a CCD camera. Both holograms are numerically superposed and then reconstructed. Two reconstructed digital waves obtained numerically interfere. The surface roughness parameters can be determined from the shape of interference fringes in that interferogram created. The range of measurable height irregularities of the surface is given by the synthetic wavelength, which is indirectly proportional to the difference of the selected wavelengths.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA101%2F01%2F1104" target="_blank" >GA101/01/1104: Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

14 th Slovak-Czech Polish Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics

ISBN

0-8194-5951-8

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

—

Název nakladatele

NEUVEDEN

Místo vydání

Bellingham, Washington, USA

Místo konání akce

Nitra

Datum konání akce

13. 9. 2004

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—