Kvantitativní analýza růstu ultratenkých vrstev pomocí rozptylu nízkoenergetických iontů metodou time-of-flight

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F08%3APU71376" target="_blank" >RIV/00216305:26210/08:PU71376 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Quantitative analysis of ultra thin layer growth by time-of-flight low energy ion scattering

Popis výsledku v původním jazyce

Time of flight low energy ion scattering is used to quantitatively characterize the growth mode of Au deposited on B. Information on the filling factor (surface area coverage) is deduced from the yield of backscattered ions and the spectrum height of scattered neutrals. From the variation of the filling factor with the nominal Au thickness, cluster growth is deduced. Information on the average cluster height is obtained from the energy distribution of scattered neutrals and the comparison with computersimulation. Finally, an estimate of the aspect ratios is obtained for the clusters from the filling factor and the cluster height.

Název v anglickém jazyce

Quantitative analysis of ultra thin layer growth by time-of-flight low energy ion scattering

Popis výsledku anglicky

Time of flight low energy ion scattering is used to quantitatively characterize the growth mode of Au deposited on B. Information on the filling factor (surface area coverage) is deduced from the yield of backscattered ions and the spectrum height of scattered neutrals. From the variation of the filling factor with the nominal Au thickness, cluster growth is deduced. Information on the average cluster height is obtained from the energy distribution of scattered neutrals and the comparison with computersimulation. Finally, an estimate of the aspect ratios is obtained for the clusters from the filling factor and the cluster height.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/LC06040" target="_blank" >LC06040: Struktury pro nanofotoniku a nanoelektroniku</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Applied Physics Letters

ISSN

0003-6951

e-ISSN

—

Svazek periodika

92

Číslo periodika v rámci svazku

1

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

3

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—