Scattermeter for measurements of solar cells

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F15%3APU115454" target="_blank" >RIV/00216305:26210/15:PU115454 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2190779" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1117/12.2190779</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2190779" target="_blank" >10.1117/12.2190779</a>

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Scattermeter for measurements of solar cells
Popis výsledku v původním jazyce
Scattermeter II is the second generation device designed and built at The Institute of Physical Engineering, Faculty of Mechanical Engineering, Brno University of Technology. This device has been designed for measuring the angular distribution of the intensity of electromagnetic radiation scattered from a surface of a solid. In this paper, the basic scheme of Scattermeter II and measuring principles with it are described. The results achieved in electromagnetic radiation scattering from surfaces of selected samples of single crystalline silicon wafers used in solar cells are also presented.
Název v anglickém jazyce
Scattermeter for measurements of solar cells
Popis výsledku anglicky
Scattermeter II is the second generation device designed and built at The Institute of Physical Engineering, Faculty of Mechanical Engineering, Brno University of Technology. This device has been designed for measuring the angular distribution of the intensity of electromagnetic radiation scattered from a surface of a solid. In this paper, the basic scheme of Scattermeter II and measuring principles with it are described. The results achieved in electromagnetic radiation scattering from surfaces of selected samples of single crystalline silicon wafers used in solar cells are also presented.

Projekt
<a href="/cs/project/TA02010784" target="_blank" >TA02010784: Optimalizace vrstevnatých systémů používaných v optickém průmyslu</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Optical Systems Design 2015: Optical Fabrication, Testing, and Metrology V
ISBN
9781628418170
ISSN
0277-786X
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
8
Strana od-do
96280-96288
Název nakladatele
Neuveden
Místo vydání
Neuveden
Místo konání akce
Jena
Datum konání akce
7. 9. 2015
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000366832100011

Podobné výsledky(10)