Optical characterization of multilayer systems with randomly rough boundaries
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F99%3A00000177" target="_blank" >RIV/00216305:26210/99:00000177 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00216224:14310/99:00003217
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Optical characterization of multilayer systems with randomly rough boundaries
Popis výsledku v původním jazyce
The method based on measuring and interpeting the spectral dependences of the coherent reflectance is used to determine the values of the optical and statistical parameters of three-layer and thirteen-layer systems exhibiting the randomly rough boundaries. The systems mentioned are formed by thin films of SiO2 and TiO2.
Název v anglickém jazyce
Optical characterization of multilayer systems with randomly rough boundaries
Popis výsledku anglicky
The method based on measuring and interpeting the spectral dependences of the coherent reflectance is used to determine the values of the optical and statistical parameters of three-layer and thirteen-layer systems exhibiting the randomly rough boundaries. The systems mentioned are formed by thin films of SiO2 and TiO2.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA202%2F98%2F0988" target="_blank" >GA202/98/0988: Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
1999
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
18th Congress of the International Commission for Optics: Optics for the Next Millennium
ISBN
0-8194-3234-2
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
—
Název nakladatele
SPIE- The international Society for Optical Engineering
Místo vydání
San Francisco, California, USA
Místo konání akce
—
Datum konání akce
—
Typ akce podle státní příslušnosti
—
Kód UT WoS článku
—