Near-field photocurrent spectroscopy: superresolving method for inspection of semiconductor interfaces
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F00%3A42200003" target="_blank" >RIV/00216305:26220/00:42200003 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00216305:26220/00:PU37578
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Near-field photocurrent spectroscopy: superresolving method for inspection of semiconductor interfaces
Popis výsledku v původním jazyce
The study of spatially resolved near-field photocurrent spectra of Schottky barrier based on the local illumination with different photon energy is presented. Non-topographic features with superresolution have been obtained in the optical near-field. Thenondestructiveness makes this technique also attractive for the analysis of reliability of laser diodes.
Název v anglickém jazyce
Near-field photocurrent spectroscopy: superresolving method for inspection of semiconductor interfaces
Popis výsledku anglicky
The study of spatially resolved near-field photocurrent spectra of Schottky barrier based on the local illumination with different photon energy is presented. Non-topographic features with superresolution have been obtained in the optical near-field. Thenondestructiveness makes this technique also attractive for the analysis of reliability of laser diodes.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/OC%20523.40" target="_blank" >OC 523.40: Nanostruktury: Optické a elektrické charakteristiky</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2000
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
CO-MAT-TECH 2000, 8. Medzinárodná vedecká konferencia, vol.4
ISBN
80-227-1413-5
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
—
Název nakladatele
Slovenská technická univerzita v Bratislave
Místo vydání
Bratislava
Místo konání akce
—
Datum konání akce
—
Typ akce podle státní příslušnosti
—
Kód UT WoS článku
—