Investigation of a possible correlation between current noise and long-term stability of thick-film resistors

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F00%3APU81244" target="_blank" >RIV/00216305:26220/00:PU81244 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Investigation of a possible correlation between current noise and long-term stability of thick-film resistors

Popis výsledku v původním jazyce

Investigation of a possible correlation between current noise and long-term stability of thick-film resistors

Název v anglickém jazyce

Investigation of a possible correlation between current noise and long-term stability of thick-film resistors

Popis výsledku anglicky

Investigation of a possible correlation between current noise and long-term stability of thick-film resistors

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA103%2F97%2F0899" target="_blank" >GA103/97/0899: Elektromagnetická emise a její aplikace ve stavebnictví a geofyzice</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2000

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proc. European Microelectronics, Packaging and Interconnection Symposium

ISBN

80-238-5509-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

—

Název nakladatele

IMAPS

Místo vydání

Praha

Místo konání akce

Praha

Datum konání akce

18. 6. 2000

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—