Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Optická mikroskopie v blízkém poli - alternativa, či soupeř STM a AFM?

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F01%3APU20651" target="_blank" >RIV/00216305:26220/01:PU20651 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Optická mikroskopie v blízkém poli - alternativa, či soupeř STM a AFM?

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Moderní oblasti výzkumu a technologie vyžadují rozlišovací schopnost za hranicemi dosažitelnými klasickými optickými mikroskopy, či dokonce konfokálními mikroskopy. Oprický rastrovací mikroskop s lokální sondou, pracující v blízkém poli (SNOM), umožňujebezkontaktní, nedestruktivní lokální měření fyzickálních i chemických charakteristik transmisních i reflexních vzorků s příčným superrozlišením < 100 nm. To z něj dělá mocný analytický nástroj pro četné nanotechnologické aplikace. Použití transmisního areflexního typu a jejich porovnání s STM a AFM je ilustrováno v následujících oddílech.

  • Název v anglickém jazyce

    Near-field optical microscopy - alternative or rival of STM and AFM?

  • Popis výsledku anglicky

    Modern areas of research and technology need the resolution behind the limit given by classical optical and confocal microscopes. Scaning near-field optical microscope (SNOM) enables non-contact, non-destructive local measurement of physical and chemicalcharacteristics of transmission and reflection samples with lateral superresolution better than 100 nm. This feature allows to use the microscope as a power tool for nanotechnological applications. The comparision of transmission and reflection types wiith STM and AFM is provided.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/OC%20523.40" target="_blank" >OC 523.40: Nanostruktury: Optické a elektrické charakteristiky</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2001

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Československý časopis pro fyziku

  • ISSN

    0009-0700

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    51

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1

  • Stát vydavatele periodika

    CZ - Česká republika

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    28-32

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus