Studium lokálních charakteristik fotoproudu v blízkém poli

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F01%3APU20652" target="_blank" >RIV/00216305:26220/01:PU20652 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Studium lokálních charakteristik fotoproudu v blízkém poli
Popis výsledku v původním jazyce
Článek přináší studii prostorového rozložení spekter laserových diod se superrozlišením. Ukazuje cestu, jak je možné použít tuto metodu pro zkoumání mikroskopických procesů degradace struktury, způsobenou vlivem stárnutí. Vzhledem ke své nedestruktivní povaze je navržená technika obzvláště přitažlivá pro in-situ analýzu výkonných laserových diod.
Název v anglickém jazyce
Near-field study of the photocurrent local characteristics
Popis výsledku anglicky
The paper deals with the study of spatial spectral distribution of laser diode structures with superresolution.The method of ageing study of microsscopy degradation processes in presented. Due to its nondestructive character the suggested technique is very attractive for in-situ analysis of power laser diodes.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—

Projekt
<a href="/cs/project/OC%20523.40" target="_blank" >OC 523.40: Nanostruktury: Optické a elektrické charakteristiky</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)