Diagnostics of analogue integrated circuits

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F01%3APU25367" target="_blank" >RIV/00216305:26220/01:PU25367 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Diagnostics of analogue integrated circuits

Popis výsledku v původním jazyce

Electronic Devices and Systems EDS 01. Noise and Non-Linearity Testing of Modern Electronics Components - Workshop. Proceedings

Název v anglickém jazyce

Diagnostics of analogue integrated circuits

Popis výsledku anglicky

Electronic Devices and Systems EDS 01. Noise and Non-Linearity Testing of Modern Electronics Components - Workshop. Proceedings

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F00%2F0939" target="_blank" >GA102/00/0939: Integrované inteligentní mikrosenzory a mikrosystémy</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2001

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Electronic Devices and Systems EDS 01. Noise and Non-Linearity Testing of Modern Electronics Components - Workshop. Proceedings

ISBN

80-214-1960-1

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

60-67

Název nakladatele

Ing. Zdeněk Novotný, CSc.

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

12. 9. 2001

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—