Self-Healing Processes in Tantalum Capacitors

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F02%3APU27779" target="_blank" >RIV/00216305:26220/02:PU27779 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Self-Healing Processes in Tantalum Capacitors

Popis výsledku v původním jazyce

Self-healing processes in tantalum capacitors are investigated and their influence on the value of leakage current and noise parameters evaluated. The kinetic of this regenerative dielectric breakdown is discussed for samples with MnO2 and conducting polymer cathodes.

Název v anglickém jazyce

Self-Healing Processes in Tantalum Capacitors

Popis výsledku anglicky

Self-healing processes in tantalum capacitors are investigated and their influence on the value of leakage current and noise parameters evaluated. The kinetic of this regenerative dielectric breakdown is discussed for samples with MnO2 and conducting polymer cathodes.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/ME%20285" target="_blank" >ME 285: Výzkum moderních součástek pro globální komunikace</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2002

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of Student EEICT 2002

ISBN

80-214-2116-9

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

239-243

Název nakladatele

FEKT VUT Brno

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

FEKT VUT Brno

Datum konání akce

25. 4. 2002

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—