Microelectronic structure reliability evaluation using response surface methodology

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F03%3APU38802" target="_blank" >RIV/00216305:26220/03:PU38802 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Microelectronic structure reliability evaluation using response surface methodology
Popis výsledku v původním jazyce
The need for reliability assessment of designed or adjusted electronic devices at the development stage creates new requirements for realiability prediction and evaluation. The traditional probabilistic approach is to a large degree replaced by empiricalstudy approaches constructed on designed reliability testing experiments. This article presents the response surface methodology as a statistical tool for creating maps of reliability performance for supposed device operating condition.
Název v anglickém jazyce
Microelectronic structure reliability evaluation using response surface methodology
Popis výsledku anglicky
The need for reliability assessment of designed or adjusted electronic devices at the development stage creates new requirements for realiability prediction and evaluation. The traditional probabilistic approach is to a large degree replaced by empiricalstudy approaches constructed on designed reliability testing experiments. This article presents the response surface methodology as a statistical tool for creating maps of reliability performance for supposed device operating condition.

Projekt
<a href="/cs/project/GP102%2F03%2FP124" target="_blank" >GP102/03/P124: Empirické modely pro multiparametrické vyhodnocování parametrů jakosti</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2003
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)