Rastrovací elektronová mikroskopie pomalými a Augerovými elektrony

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU40899" target="_blank" >RIV/00216305:26220/04:PU40899 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Rastrovací elektronová mikroskopie pomalými a Augerovými elektrony

Popis výsledku v původním jazyce

Hlavním cílem práce je in situ srovnání signálů v pomalých a Augerových elektronech v rastrovacím elektronovém mikroskopu. Součástí práce je dokončení experimentálního zařízení, provedení simulací a výpočtů jeho vlastností a interpretace získaných obrazových dat.

Název v anglickém jazyce

Scanning electron microscopy with slow and Auger electrons

Popis výsledku anglicky

Main goal of the work is in-situ comparison of signals in slow and Auger electrons in Scanning Electron Microscope. Construction of experimental device, computer simulations and calculations of properties of the device and interpretation of getting dataare parts of the work.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

PDS 2003

ISBN

80-239-2268-8

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

23-26

Název nakladatele

Ústav přístrojové techniky AV ČR

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

30. 1. 2004

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—