Měření driftové délky fotoindukovaných nábojů a děr v napařené elektroluminiscenční vrstvě ZnS:Mn řízené střídavým proudem
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU44978" target="_blank" >RIV/00216305:26220/04:PU44978 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Photo-induced charge and hole drift length measurement of evaporated ZnS:Mn alternating-current thin-film electroluminescent devices
Popis výsledku v původním jazyce
Photo-induced charge (PIQ) measurements are employed for the characterization of evaporated ZnS:Mn alternating-current thin-film-electroluminescent (ACTFEL) devices. By changing the polarity of the applied voltage pulse, either electron or hole transportmay be studied. PIQ trends indicate that electron transport is significantly more efficient than hole transport due to hole trapping in the ZnS. Hole trapping is characterized by a drift length of ~180 ? 70 nm, a hole lifetime of ~2 ps, and a capture crross-section of ~7 × 10?13 cm2.
Název v anglickém jazyce
Photo-induced charge and hole drift length measurement of evaporated ZnS:Mn alternating-current thin-film electroluminescent devices
Popis výsledku anglicky
Photo-induced charge (PIQ) measurements are employed for the characterization of evaporated ZnS:Mn alternating-current thin-film-electroluminescent (ACTFEL) devices. By changing the polarity of the applied voltage pulse, either electron or hole transportmay be studied. PIQ trends indicate that electron transport is significantly more efficient than hole transport due to hole trapping in the ZnS. Hole trapping is characterized by a drift length of ~180 ? 70 nm, a hole lifetime of ~2 ps, and a capture crross-section of ~7 × 10?13 cm2.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/ME%20544" target="_blank" >ME 544: Polovodiče - lokální optické a elektrické vlastnosti</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2004
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Elektortechnika a informatika 2004
ISBN
80-7043-300-0
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
63-66
Název nakladatele
Fakulta elektrotechnická, Zapadočeská univezita v Plzni
Místo vydání
Plzeň
Místo konání akce
Nečtiny
Datum konání akce
3. 11. 2004
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—