Analýza stárnutí elektroluminiscenčních součástek řízených střídavým proudem při využití transfer nábojů při podprahových indukovaných napětích

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU44980" target="_blank" >RIV/00216305:26220/04:PU44980 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Subtreshold voltage-induced transferred charge aging analysis of alternating-current thin-film electroluminescent device
Popis výsledku v původním jazyce
The paper brings a subthreshold voltage-induced transferred charge (VIQ) analysis. This method is a useful technique for investigating subtle device physics electrical operation and the aging behavior of ACTFEL devices. Some results will be presented.
Název v anglickém jazyce
Subtreshold voltage-induced transferred charge aging analysis of alternating-current thin-film electroluminescent device
Popis výsledku anglicky
The paper brings a subthreshold voltage-induced transferred charge (VIQ) analysis. This method is a useful technique for investigating subtle device physics electrical operation and the aging behavior of ACTFEL devices. Some results will be presented.

Projekt
<a href="/cs/project/ME%20544" target="_blank" >ME 544: Polovodiče - lokální optické a elektrické vlastnosti</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2004
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)