Testovací čip pro charakterizaci nelineárních kondenzátorů

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU51156" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU51156 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Test-chip for non-linear capacitors characterization

Popis výsledku v původním jazyce

The paper deals with characterization and linearization of non-linear capacitors of MOS transistors. Basic principles of compensation are presented. A test chip for nonlinear capacitance characterization implementing a new measurement method has been developed.

Název v anglickém jazyce

Test-chip for non-linear capacitors characterization

Popis výsledku anglicky

The paper deals with characterization and linearization of non-linear capacitors of MOS transistors. Basic principles of compensation are presented. A test chip for nonlinear capacitance characterization implementing a new measurement method has been developed.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GD102%2F03%2FH105" target="_blank" >GD102/03/H105: Moderní metody řešení, návrhu a aplikace elektronických obvodů</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

EDS '05 IMAPS CS International Conference Proceedings

ISBN

80-214-2990-9

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

396-401

Název nakladatele

Ing. Zdeněk Novotný CSc., Ondráčkova 105, Brno

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

15. 9. 2005

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—