Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Kompaktní model nanorozměrového dvou-hradlového tranzistoru typu MOSFET.

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU51327" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU51327 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    A Compact Model of the Nanoscale Double-Gate MOSFET.

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We would like to present a simple, compact model for the nanoscale DG MOSFET using a flux method originally introduced by McKelvey. McKelvey's flux method captures the essential physics of carrier transport in transistors and has been previously used forthin-base diodes and bipolar transistors. The device displays high transconductance and near-ideal subthreshold swing and the two gates provide good electrostatic integrity which minimizes drain induced barrier lowering (DIBL) and threshold variation wwith channel length. This work is based on paper from Dr. Lundstrom and Dr. Rahman.

  • Název v anglickém jazyce

    A Compact Model of the Nanoscale Double-Gate MOSFET.

  • Popis výsledku anglicky

    We would like to present a simple, compact model for the nanoscale DG MOSFET using a flux method originally introduced by McKelvey. McKelvey's flux method captures the essential physics of carrier transport in transistors and has been previously used forthin-base diodes and bipolar transistors. The device displays high transconductance and near-ideal subthreshold swing and the two gates provide good electrostatic integrity which minimizes drain induced barrier lowering (DIBL) and threshold variation wwith channel length. This work is based on paper from Dr. Lundstrom and Dr. Rahman.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2005

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    EDS'05 IMAPS CS INTERNATIONAL CONFERENCE PROCEEDINGS

  • ISBN

    80-214-2990-9

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    11-15

  • Název nakladatele

    Vysoké učení technické v Brně, Antonínská 548/1

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    15. 9. 2005

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    CST - Celostátní akce

  • Kód UT WoS článku