Kriteria kvality STM a SNOM

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU51916" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU51916 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Kriteria kvality STM a SNOM

Popis výsledku v původním jazyce

Článek je zaměřen na kriterium hodnocení metod STM a SNOM v nanotechnologii. Je zde pracováno s pojmem" počet stupňů volnosti", který je v článku brán jako základní měřítko kvality mikroskopů pracujících v blízkém poli.

Název v anglickém jazyce

Criteria quality of STM and SNOM

Popis výsledku anglicky

The article is focused on an analysis of the general problem of quality criteria in near-field microscopy, i.e. the number of degrees of freedom. The principle of Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM) method and several terms from nanotechnologyare also described.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Elektrotechnika ainformatika 2005

ISBN

80-7043-375-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

31-34

Název nakladatele

Fakulta elektrotechnická, Západočeská universita v Plzni

Místo vydání

Plzeň

Místo konání akce

Nečtiny

Datum konání akce

2. 11. 2005

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—