Systém pro testovaní analogových a digitálních integrovaných obvodů

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU54227" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU54227 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Systém pro testovaní analogových a digitálních integrovaných obvodů
Popis výsledku v původním jazyce
V článku je popsán navržený a realizovaný systém pro testování reálných integrovaných obvodů s podporou měření precizními laboratorními přístroji. Univerzální pole zajišťující dostatečné množství zaměnitelných signálových cest zajišťuje fyzické připojeníobvodů k dostupným přístrojům a řídicí počítač umožňuje komplexní využití širokého spektra dostupných funkcí moderních laboratorních přístrojů včetně nastavení měřicích cyklů a podpory následného zpracování dat.
Název v anglickém jazyce
Testing of analog and digital integrated circuits
Popis výsledku anglicky
System for testing integrated circuit is realized as divided separate circuits to provide severe electrical measurements using precise laboratory instruments and switching array to ensure fast circuit interchangeable connections with measured circuit. Designed sub circuits are described with examples of standard measurement supporting further data processing.

Rok uplatnění
2005
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Mikrosyn. Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích
ISBN
80-214-3116-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
52-57
Název nakladatele
Nakl. Novotný
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
12. 12. 2005
Typ akce podle státní příslušnosti
CST - Celostátní akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)