Sledování defektů v materiálech pomocí impedanční tomografie
Popis výsledku
Elektrická impedanční tomografie (EIT) je technika umožňující rekonstrukci obrazu rozložení konduktivity uvnitř zkoumaného objektu pomocí napětí měřených na povrchu objektu. Napětí jsou buzena stejnosměrným nebo střídavým proudem nízkých kmitočtů. V článku jsou předloženy nové modifikace rekonstrukčního procesu vedoucí ke zvýšení stability řešení a přesnosti výsledků při aplikaci EIT na zkoumání destrukcí porézních materiálů a speciálních struktur tzv. honeycombs.
Klíčová slova
Inverse problemssurface parameter estimationregularizationnon-destructive testing
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Identification of Defects in Materials Using EIT
Popis výsledku v původním jazyce
Electrical Impedance Tomography (EIT) is a soft-field tomography modality, where images of the electrical conductivity distribution in a volume can be reconstructed from voltage measurement captured on its boundaries. We propose the modification of new techniques formulation for recovering continuous surface conductivity distribution using EIT, which will be suitable for the reconstruction of conductivity distribution of porous or spongy structures. The methods like these are very useful in non-destructive testing and identifications of the material defects like cracks in special structures called honeycombs.
Název v anglickém jazyce
Identification of Defects in Materials Using EIT
Popis výsledku anglicky
Electrical Impedance Tomography (EIT) is a soft-field tomography modality, where images of the electrical conductivity distribution in a volume can be reconstructed from voltage measurement captured on its boundaries. We propose the modification of new techniques formulation for recovering continuous surface conductivity distribution using EIT, which will be suitable for the reconstruction of conductivity distribution of porous or spongy structures. The methods like these are very useful in non-destructive testing and identifications of the material defects like cracks in special structures called honeycombs.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
EDS´06
ISBN
80-214-3246-2
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
285-289
Název nakladatele
VUT v Brně
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
14. 9. 2006
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—
Základní informace
Druh výsledku
D - Stať ve sborníku
CEP
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Rok uplatnění
2006