Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Sledování defektů v materiálech pomocí impedanční tomografie

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F06%3APU61385" target="_blank" >RIV/00216305:26220/06:PU61385 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Identification of Defects in Materials Using EIT

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Electrical Impedance Tomography (EIT) is a soft-field tomography modality, where images of the electrical conductivity distribution in a volume can be reconstructed from voltage measurement captured on its boundaries. We propose the modification of new techniques formulation for recovering continuous surface conductivity distribution using EIT, which will be suitable for the reconstruction of conductivity distribution of porous or spongy structures. The methods like these are very useful in non-destructive testing and identifications of the material defects like cracks in special structures called honeycombs.

  • Název v anglickém jazyce

    Identification of Defects in Materials Using EIT

  • Popis výsledku anglicky

    Electrical Impedance Tomography (EIT) is a soft-field tomography modality, where images of the electrical conductivity distribution in a volume can be reconstructed from voltage measurement captured on its boundaries. We propose the modification of new techniques formulation for recovering continuous surface conductivity distribution using EIT, which will be suitable for the reconstruction of conductivity distribution of porous or spongy structures. The methods like these are very useful in non-destructive testing and identifications of the material defects like cracks in special structures called honeycombs.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2006

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    EDS´06

  • ISBN

    80-214-3246-2

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    285-289

  • Název nakladatele

    VUT v Brně

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    14. 9. 2006

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku