Digitální analýza širokopásmového šumu v polovodičových strukturách

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F06%3APU62991" target="_blank" >RIV/00216305:26220/06:PU62991 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Digitální analýza širokopásmového šumu v polovodičových strukturách
Popis výsledku v původním jazyce
The noise spectroscopy is used to determinate quality and reliability of semiconductor materials. This paper deals with a design octave digital filter bank to PSD estimation of wideband random process. The computing of filter bank use FFT algorithm. In the very low frequency area we will obtain high resolution. The usage of this method reduce background noise of measuring setup.
Název v anglickém jazyce
Digital analysis of wideband noise in solid-state structures
Popis výsledku anglicky
The noise spectroscopy is used to determinate quality and reliability of semiconductor materials. This paper deals with a design octave digital filter bank to PSD estimation of wideband random process. The computing of filter bank use FFT algorithm. In the very low frequency area we will obtain high resolution. The usage of this method reduce background noise of measuring setup.

Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostika elektronických součástek s PN přechodem pomocí šumu mikroplazmy</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)