Zdroje šumu v detektorech CdTe

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU69097" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU69097 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Noise Sources in the CdTe radiation tetectors

Popis výsledku v původním jazyce

Noise and transport characteristics of CdTe gamma - and X-ray detectors have been carried out to determine the 1/f noise sources and theirs correlation with charge carriers mobility. The noise spectral density was measured by standard set-up. The noise of low ohmic samples has 1/f noise spectral density which increases with the square of voltage. The high ohmic samples revile 1/fa type noise in low frequency range and G-R noise in frequency above 100 Hz. In low frequency range noise spectral is proportional to fourth power of current and then we suppose that main source of noise is in Schottky barrier in vicinity of contacts. We suppose that thickness of the region with dominant contribution to noise decreases with increasing current and total reciprocal number of curriers is proportional to second power of current. Then current noise spectral density is proportional to fourth power of current.

Název v anglickém jazyce

Noise Sources in the CdTe radiation tetectors

Popis výsledku anglicky

Noise and transport characteristics of CdTe gamma - and X-ray detectors have been carried out to determine the 1/f noise sources and theirs correlation with charge carriers mobility. The noise spectral density was measured by standard set-up. The noise of low ohmic samples has 1/f noise spectral density which increases with the square of voltage. The high ohmic samples revile 1/fa type noise in low frequency range and G-R noise in frequency above 100 Hz. In low frequency range noise spectral is proportional to fourth power of current and then we suppose that main source of noise is in Schottky barrier in vicinity of contacts. We suppose that thickness of the region with dominant contribution to noise decreases with increasing current and total reciprocal number of curriers is proportional to second power of current. Then current noise spectral density is proportional to fourth power of current.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F07%2F0113" target="_blank" >GA102/07/0113: Diagnostika Schottkyho a studenoemisních katod pomocí elektronického šumu</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2007

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Noise and Fluctuation - 19-th International Conference on Noise and Fluctuations - ICNF 2007

ISBN

978-0-7354-0432-8

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

302-305

Název nakladatele

American Institute of Physics

Místo vydání

Tokyo

Místo konání akce

Tokyo

Datum konání akce

9. 9. 2007

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—