Optické metody pro měření extrémních signálů

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU71032" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU71032 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Optical methods for extreme level measurement

Popis výsledku v původním jazyce

There are certain optical methods for the measurement of ultra-short solitary electromagnetic pulses or low-level measurement. The measurement methods properties have to correspond to the fact of whether we want to measure pulses of voltage, current or afree-space electromagnetic wave. The need for specific measurement methods occurred owing to the development of high power microwave pulse generator. Certain applicable methods are presented in this paper. For the same purpose, the magneto-optic methodcan be utilized with respect to its advantages. For the measurement of the output microwave pulse of the generator, the optical method was designed and realized. Low-level optical measurement methods were used for nano-layers measurement and experimentally verified with regard to air ion concentration test.

Název v anglickém jazyce

Optical methods for extreme level measurement

Popis výsledku anglicky

There are certain optical methods for the measurement of ultra-short solitary electromagnetic pulses or low-level measurement. The measurement methods properties have to correspond to the fact of whether we want to measure pulses of voltage, current or afree-space electromagnetic wave. The need for specific measurement methods occurred owing to the development of high power microwave pulse generator. Certain applicable methods are presented in this paper. For the same purpose, the magneto-optic methodcan be utilized with respect to its advantages. For the measurement of the output microwave pulse of the generator, the optical method was designed and realized. Low-level optical measurement methods were used for nano-layers measurement and experimentally verified with regard to air ion concentration test.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JB - Senzory, čidla, měření a regulace

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2007

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

2007 International Waveform Diversity and Design Conference

ISBN

1-4244-1276-5

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

131-135

Název nakladatele

IEEE

Místo vydání

Pisa, Italy

Místo konání akce

Pisa, Italy

Datum konání akce

4. 6. 2007

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—