The Numerical Modeling and Conformal Mapping Method Applied to the Strip-centered Coaxial Line Analysis

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU73852" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU73852 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

The Numerical Modeling and Conformal Mapping Method Applied to the Strip-centered Coaxial Line Analysis

Popis výsledku v původním jazyce

This contribution compares five different solutions of the characteristic impedance of the strip-centered coaxial line (SCCL) - two different strategies of boundary element method (BEM-1, BEM-2), numerical evaluating of the Schwarz-Christoffel integral (NSC) and two different solutions based on conformal mapping method (CMM-1, CMM-2). All these methods are quasi-static; therefore here presented results (all methods) are valid for wavelengths longer than the longest electrical dimension of the SCCL - diameter of the surrounding electrode. On higher frequencies occur not-TEM modes. The aim of this work is to compare different methods for one structure analysis to learn about their properties, advantages and disadvantages.

Název v anglickém jazyce

The Numerical Modeling and Conformal Mapping Method Applied to the Strip-centered Coaxial Line Analysis

Popis výsledku anglicky

This contribution compares five different solutions of the characteristic impedance of the strip-centered coaxial line (SCCL) - two different strategies of boundary element method (BEM-1, BEM-2), numerical evaluating of the Schwarz-Christoffel integral (NSC) and two different solutions based on conformal mapping method (CMM-1, CMM-2). All these methods are quasi-static; therefore here presented results (all methods) are valid for wavelengths longer than the longest electrical dimension of the SCCL - diameter of the surrounding electrode. On higher frequencies occur not-TEM modes. The aim of this work is to compare different methods for one structure analysis to learn about their properties, advantages and disadvantages.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

PIERS 2008 Hangzhou

ISBN

978-1-934142-04-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Název nakladatele

The Electromagnetic academy

Místo vydání

Cambridge

Místo konání akce

Hangzhou

Datum konání akce

24. 3. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—