Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Měření ČV mikrosenzory

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU75403" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU75403 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    PD MEASUREMENT WITH MICROSENSORS

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In the present the deep investigation of partial discharge (PD) activity are necessary for longer service life and better reliability of high voltage under stressed parts or of such whole systems or facilities. There is a need of minimal size sensors which can be integrated during the production inside the measured object like high voltage transformers, drivers or high voltage parts of PCB's are, can serve us the valued information about discharge activity during whole service life. This work is focusedon design of very small moveable and sensitive sensors.

  • Název v anglickém jazyce

    PD MEASUREMENT WITH MICROSENSORS

  • Popis výsledku anglicky

    In the present the deep investigation of partial discharge (PD) activity are necessary for longer service life and better reliability of high voltage under stressed parts or of such whole systems or facilities. There is a need of minimal size sensors which can be integrated during the production inside the measured object like high voltage transformers, drivers or high voltage parts of PCB's are, can serve us the valued information about discharge activity during whole service life. This work is focusedon design of very small moveable and sensitive sensors.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2008

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Electronic Devices and System IMAPS CS International Conference 2008

  • ISBN

    978-80-214-3717-3

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    Z. Novotný

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    10. 9. 2008

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku