Micro-plasma Luminescence And Signal Noise Used To Solar Cells Defect Diagnostic

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F09%3APU84106" target="_blank" >RIV/00216305:26220/09:PU84106 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Micro-plasma Luminescence And Signal Noise Used To Solar Cells Defect Diagnostic
Popis výsledku v původním jazyce
This work deals with the usage of signal noise and micro-plasmas luminescence for solar cells diagnostic. When high electric field is applied to PN junction of solar cell with some technological imperfections it produces in tiny areas of enhanced impactionization called micro-plasmas which could lead to deterioration in quality or destruction of PN junction.
Název v anglickém jazyce
Micro-plasma Luminescence And Signal Noise Used To Solar Cells Defect Diagnostic
Popis výsledku anglicky
This work deals with the usage of signal noise and micro-plasmas luminescence for solar cells diagnostic. When high electric field is applied to PN junction of solar cell with some technological imperfections it produces in tiny areas of enhanced impactionization called micro-plasmas which could lead to deterioration in quality or destruction of PN junction.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—

Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F09%2F0859" target="_blank" >GA102/09/0859: Souvislost lokální emise světla se stochastickými jevy v PN přechodu solárních článků při velmi nízkých teplotách.</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)