Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Comparisons of Noise Spectroscopy Analyze and Microplasma Noise Sources

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F10%3APU87502" target="_blank" >RIV/00216305:26220/10:PU87502 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Comparisons of Noise Spectroscopy Analyze and Microplasma Noise Sources

  • Popis výsledku v původním jazyce

    As it was the mechanical noise used for diagnostic od machine in teh past, the electronic noise can by used as diagnostic tool for detection of defectes in electronical deveces and systems in teh future. This paper deals with comparisons of noise spectroscopy and detection of microplasma noise sources in the three type of solar cells.

  • Název v anglickém jazyce

    Comparisons of Noise Spectroscopy Analyze and Microplasma Noise Sources

  • Popis výsledku anglicky

    As it was the mechanical noise used for diagnostic od machine in teh past, the electronic noise can by used as diagnostic tool for detection of defectes in electronical deveces and systems in teh future. This paper deals with comparisons of noise spectroscopy and detection of microplasma noise sources in the three type of solar cells.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA102%2F09%2F0859" target="_blank" >GA102/09/0859: Souvislost lokální emise světla se stochastickými jevy v PN přechodu solárních článků při velmi nízkých teplotách.</a><br>

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2010

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    27th International Conference on microelectronics

  • ISBN

    978-1-4244-7200-0

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    IEEE Serbie

  • Místo vydání

    Niš, Serbie

  • Místo konání akce

    Niš

  • Datum konání akce

    16. 5. 2010

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku