Parametric Reduction of Jacobian Matrix for Fault Analysis

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F10%3APU88584" target="_blank" >RIV/00216305:26220/10:PU88584 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/60162694:G43__/10:00421699

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Parametric Reduction of Jacobian Matrix for Fault Analysis

Popis výsledku v původním jazyce

The paper deals with a fast numerical method for generating the Jacobian matrix of network function for large analog linear circuits. It is based on the use of cofactor matrices. The computational cost of the Jacobian is comparable to the cost of computing a single network function on selected frequencies. In addition, the method allows performing the reduction of Jacobian matrix based on large-change sensitivities in order to decrease the computational complexity of subsequent testability analysis. Anexample analysis of a frequency filter is presented.

Název v anglickém jazyce

Parametric Reduction of Jacobian Matrix for Fault Analysis

Popis výsledku anglicky

The paper deals with a fast numerical method for generating the Jacobian matrix of network function for large analog linear circuits. It is based on the use of cofactor matrices. The computational cost of the Jacobian is comparable to the cost of computing a single network function on selected frequencies. In addition, the method allows performing the reduction of Jacobian matrix based on large-change sensitivities in order to decrease the computational complexity of subsequent testability analysis. Anexample analysis of a frequency filter is presented.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proc. of the 22nd IEEE International Conference on Microelectronics (ICM 2010)

ISBN

978-1-61284-151-9

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

503-506

Název nakladatele

IEEE

Místo vydání

Cairo

Místo konání akce

Cairo

Datum konání akce

19. 12. 2010

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000290617900127