Automatic analysis of defective solar cells in the solar module

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F10%3APU90091" target="_blank" >RIV/00216305:26220/10:PU90091 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Automatic analysis of defective solar cells in the solar module

Popis výsledku v původním jazyce

This paper deals with the possibility of automated detection of defective solar cells within the whole solar module taken by electroluminescence methods. There is variety of possibilities to make a useful analysis of the quality of used material and technology processes during the manufacturing of solar cell and modules. One of the best from these methods that are capable to show the distribution of defects in the structure we can consider the electroluminescence which can detect defects in the fastestway. This method used in manufacturing process creates large array of data displaying local behavior of solar cell and panel structure.

Název v anglickém jazyce

Automatic analysis of defective solar cells in the solar module

Popis výsledku anglicky

This paper deals with the possibility of automated detection of defective solar cells within the whole solar module taken by electroluminescence methods. There is variety of possibilities to make a useful analysis of the quality of used material and technology processes during the manufacturing of solar cell and modules. One of the best from these methods that are capable to show the distribution of defects in the structure we can consider the electroluminescence which can detect defects in the fastestway. This method used in manufacturing process creates large array of data displaying local behavior of solar cell and panel structure.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F09%2F0859" target="_blank" >GA102/09/0859: Souvislost lokální emise světla se stochastickými jevy v PN přechodu solárních článků při velmi nízkých teplotách.</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of 25th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition

ISBN

3-936338-26-4

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Název nakladatele

WIP

Místo vydání

Valencia

Místo konání akce

Valencia

Datum konání akce

6. 9. 2010

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—