Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Solar cell shunt characterization via microscale light induced current

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F11%3APU92880" target="_blank" >RIV/00216305:26220/11:PU92880 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Solar cell shunt characterization via microscale light induced current

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Cílem této práce je experimentální porovnání více druhů defektů v mikroskopickém měřítku, které emitují světlo při závěrné polarizaci vzorku. K tomuto účelu je použit skenovací optický mikroskop v blízkém poli umožňující měřit laserm indukovaný proud vevysokém prostorovém rozlišení spolčeně s topografií povrchu vzorku a emisí světla. Některé defekty jsou pozorovatelné v morfologii povrchu, jiné s využitím indukovaného proudu a některé pouze lokalizovatelné skrze emisi světla. Velikost všech zkoumanýchnehomogenit je v řádů jednotek až desítek mikrometrů.

  • Název v anglickém jazyce

    Solar cell shunt characterization via microscale light induced current

  • Popis výsledku anglicky

    Cílem této práce je experimentální porovnání více druhů defektů v mikroskopickém měřítku, které emitují světlo při závěrné polarizaci vzorku. K tomuto účelu je použit skenovací optický mikroskop v blízkém poli umožňující měřit laserm indukovaný proud vevysokém prostorovém rozlišení spolčeně s topografií povrchu vzorku a emisí světla. Některé defekty jsou pozorovatelné v morfologii povrchu, jiné s využitím indukovaného proudu a některé pouze lokalizovatelné skrze emisi světla. Velikost všech zkoumanýchnehomogenit je v řádů jednotek až desítek mikrometrů.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GAP102%2F10%2F2013" target="_blank" >GAP102/10/2013: Fluktuační procesy v PN přechodech solárních článků</a><br>

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    IMAPS CS International Conference 2011 Proceedings

  • ISBN

    978-80-214-4303-7

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    95-99

  • Název nakladatele

    VUT Brno

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    22. 6. 2011

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku