Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Thick Film Planar Inductor Characterization

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F11%3APU94946" target="_blank" >RIV/00216305:26220/11:PU94946 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://www.citizen-testdomain.co.uk/technical-conference/" target="_blank" >http://www.citizen-testdomain.co.uk/technical-conference/</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Thick Film Planar Inductor Characterization

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Paper describes experiment where model of thick film inductor was created, simulated and verified. For simulation, the FEM (Finite Element Method) was used. In this paper are shown graphical outputs of simulation. Next part of this work was experimental verifying of obtained results. For this, testing sample was designed, manufactured and measured. Measured values were statistically evaluated.

  • Název v anglickém jazyce

    Thick Film Planar Inductor Characterization

  • Popis výsledku anglicky

    Paper describes experiment where model of thick film inductor was created, simulated and verified. For simulation, the FEM (Finite Element Method) was used. In this paper are shown graphical outputs of simulation. Next part of this work was experimental verifying of obtained results. For this, testing sample was designed, manufactured and measured. Measured values were statistically evaluated.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of 18th European microelectronics packaging conference EMPC 2011

  • ISBN

    978-0-9568086-0-8

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    458-461

  • Název nakladatele

    IMAPS-Europe

  • Místo vydání

    Brighton, UK

  • Místo konání akce

    Brighton

  • Datum konání akce

    12. 9. 2011

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku