Porous-anodic-alumina-supported nanostructured Ta2O5/Ta films for advanced capacitors
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F12%3APR26579" target="_blank" >RIV/00216305:26220/12:PR26579 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/Products.aspx" target="_blank" >http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/Products.aspx</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Porous-anodic-alumina-supported nanostructured Ta2O5/Ta films for advanced capacitors
Popis výsledku v původním jazyce
An advanced approach is implemented to fabricate Ta2O5/Ta films with highly porous nanostructured morphology and substantially enlarged surface-to-volume ratio via electrochemical anodizing of tantalum layers sputter-deposited over the nanoporous alumina substrates. Potential application of the films as metal/oxide electrodes for electrolytic and thin-film capacitors
Název v anglickém jazyce
Porous-anodic-alumina-supported nanostructured Ta2O5/Ta films for advanced capacitors
Popis výsledku anglicky
An advanced approach is implemented to fabricate Ta2O5/Ta films with highly porous nanostructured morphology and substantially enlarged surface-to-volume ratio via electrochemical anodizing of tantalum layers sputter-deposited over the nanoporous alumina substrates. Potential application of the films as metal/oxide electrodes for electrolytic and thin-film capacitors
Klasifikace
Druh
G<sub>funk</sub> - Funkční vzorek
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
R - Projekt Ramcoveho programu EK
Ostatní
Rok uplatnění
2012
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Interní identifikační kód produktu
Nanoporous tantalum oxide
Číselná identifikace
97476
Technické parametry
Formation voltage for porous alumina growth - 200...250V; Average pores diameters for alumina - 400 and 500 nm; Pore population density - 3.5x10E8 and 2.5x10E8 Anodising voltage for Ta - 0...50V; Thickness of Ta2O5 dielectric - 80 nm; Pore diameter for tantalum oxide film - 260 and 350 nm; Dielectric constant - 25; Increment in the surface area - 3...5 times; Pore aspect ratio - 1...3; Funkční vzorek byl na základě získaných poznatků zkonstruován a ověřen. Je využíván na pracovišti řešitele LabSensNano (VUT v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií, Ústav mikroelektroniky, Technická 3058/10, 616 00 Brno, Česká republika)
Ekonomické parametry
The technology enables high-volume, low-cost solution for electronic passives Costs for developing 300.000 CZK
Kategorie aplik. výsledku dle nákladů
—
IČO vlastníka výsledku
—
Název vlastníka
Ústav mikroelektroniky
Stát vlastníka
CZ - Česká republika
Druh možnosti využití
N - Využití výsledku jiným subjektem je možné bez nabytí licence (výsledek není licencován)
Požadavek na licenční poplatek
—
Adresa www stránky s výsledkem
http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/Products.aspx