Surface Examination of Ultra-sharp Cold Field-Emission Cathode

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F12%3APU100067" target="_blank" >RIV/00216305:26220/12:PU100067 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/68081731:_____/12:00386105

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Surface Examination of Ultra-sharp Cold Field-Emission Cathode

Popis výsledku v původním jazyce

An experimental cold field-emission cathode, based on metal-oxide-insulator structure has been analyzed by several non-destructive evaluation methods in order to describe the material properties and electrical behaviour of the sample. Owing to the fact that the tip of the cathode reaches nanoscopic-scale, several different evaluation methods have been incorporated. Firstly, the scanning electron microscopy (SEM), along with the electron dispersive spectroscopy (EDS) was performed to describe general proportions of the shape and the abundance of elements present in the surface layer. Secondly, the scanning low-energy electron microscopy (SLEEM) was applied in order to visualize the crystalline microstructure of the cathode surface. Finally, the epoxy coating covering the cathode tip was characterised using the dielectric relaxation spectroscopy (DRS) method.

Název v anglickém jazyce

Surface Examination of Ultra-sharp Cold Field-Emission Cathode

Popis výsledku anglicky

An experimental cold field-emission cathode, based on metal-oxide-insulator structure has been analyzed by several non-destructive evaluation methods in order to describe the material properties and electrical behaviour of the sample. Owing to the fact that the tip of the cathode reaches nanoscopic-scale, several different evaluation methods have been incorporated. Firstly, the scanning electron microscopy (SEM), along with the electron dispersive spectroscopy (EDS) was performed to describe general proportions of the shape and the abundance of elements present in the surface layer. Secondly, the scanning low-energy electron microscopy (SLEEM) was applied in order to visualize the crystalline microstructure of the cathode surface. Finally, the epoxy coating covering the cathode tip was characterised using the dielectric relaxation spectroscopy (DRS) method.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GAP102%2F11%2F0995" target="_blank" >GAP102/11/0995: Transport elektronů, šum a diagnostika Shottkyho a autoemisních katod</a><br>

Návaznosti

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

New Trends in Physics, NTF2012, Proceedings of the conference

ISBN

978-80-214-4594-9

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

51-56

Název nakladatele

Neuveden

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

11. 10. 2012

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—