Identification of Micro-scale Defects in Crystalline Solar Cell Structure
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F12%3APU101179" target="_blank" >RIV/00216305:26220/12:PU101179 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Identification of Micro-scale Defects in Crystalline Solar Cell Structure
Popis výsledku v původním jazyce
The article deals with the diagnostics application to local defects on the edge in silicon solar cells by monitoring their optical and thermal activities during electrical excitation. During the measurement is solar cell connected to a voltage source inthe reverse direction. Radiation generated from reverse-biased pn junction defects is used to study local properties. It proves to be useful to measure surface radiation and to make light spots (defects) localization. By the same way is possible to measure the radiation intensity. We also focused on thermal degradation in stressed regions. To this aim we used an infrared camera and it turns out that temperature degradation could occur in large scale region compare to micro-scale defects.
Název v anglickém jazyce
Identification of Micro-scale Defects in Crystalline Solar Cell Structure
Popis výsledku anglicky
The article deals with the diagnostics application to local defects on the edge in silicon solar cells by monitoring their optical and thermal activities during electrical excitation. During the measurement is solar cell connected to a voltage source inthe reverse direction. Radiation generated from reverse-biased pn junction defects is used to study local properties. It proves to be useful to measure surface radiation and to make light spots (defects) localization. By the same way is possible to measure the radiation intensity. We also focused on thermal degradation in stressed regions. To this aim we used an infrared camera and it turns out that temperature degradation could occur in large scale region compare to micro-scale defects.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2012
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Fracture Mechanics for Durability, Reliability and Safety
ISBN
978-5-905576-18-8
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
8
Strana od-do
532-539
Název nakladatele
Neuveden
Místo vydání
Kazaň
Místo konání akce
Kazaň
Datum konání akce
26. 8. 2012
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—