Scanning Probe Microscopy in Technology of Solar Cells Production

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F14%3APU111819" target="_blank" >RIV/00216305:26220/14:PU111819 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://www.electroscope.zcu.cz" target="_blank" >http://www.electroscope.zcu.cz</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Scanning Probe Microscopy in Technology of Solar Cells Production

Popis výsledku v původním jazyce

This article deals with implementation of SPM techniques (AFM and KPFM) to the characterization of crystalline silicon solar cells.

Název v anglickém jazyce

Scanning Probe Microscopy in Technology of Solar Cells Production

Popis výsledku anglicky

This article deals with implementation of SPM techniques (AFM and KPFM) to the characterization of crystalline silicon solar cells.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2014

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

ElectroScope - http://www.electroscope.zcu.cz

ISSN

1802-4564

e-ISSN

—

Svazek periodika

2014

Číslo periodika v rámci svazku

3

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

1-6

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—