Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

SHORT- CIRCUIT TESTS OF CIRCUIT BREAKERS

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F15%3APU115076" target="_blank" >RIV/00216305:26220/15:PU115076 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://www.feec.vutbr.cz/EEICT/2015/sbornik/EEICT-2015-sbornik-komplet_v2.pdf" target="_blank" >http://www.feec.vutbr.cz/EEICT/2015/sbornik/EEICT-2015-sbornik-komplet_v2.pdf</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    SHORT- CIRCUIT TESTS OF CIRCUIT BREAKERS

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper deals with short-circuit tests of low voltage electrical devices. In the first part of this paper, there are described basic types of short- circuit tests and their principles. Direct and indirect (synthetic) tests with more details are described in the second part. Each test and principles are explained separately. Oscilogram is obtained from short-circuit tests of circuit breakers at laboratory. The aim of this research work is to propose a test circuit for performing indirect test.

  • Název v anglickém jazyce

    SHORT- CIRCUIT TESTS OF CIRCUIT BREAKERS

  • Popis výsledku anglicky

    This paper deals with short-circuit tests of low voltage electrical devices. In the first part of this paper, there are described basic types of short- circuit tests and their principles. Direct and indirect (synthetic) tests with more details are described in the second part. Each test and principles are explained separately. Oscilogram is obtained from short-circuit tests of circuit breakers at laboratory. The aim of this research work is to propose a test circuit for performing indirect test.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of the 21st Conference STUDENT EEICT 2015

  • ISBN

    978-80-214-5148-3

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    605-609

  • Název nakladatele

    VUT v Brně

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    23. 4. 2015

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    CST - Celostátní akce

  • Kód UT WoS článku