Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Electrothermal simulation of bonding wire degradation under uncertain geometries

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F16%3APU118996" target="_blank" >RIV/00216305:26220/16:PU118996 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://ieeexplore.ieee.org/document/7459510" target="_blank" >https://ieeexplore.ieee.org/document/7459510</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Electrothermal simulation of bonding wire degradation under uncertain geometries

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this paper, electrothermal field phenomena in electronic components are considered. This coupling is tackled by multiphysical field simulations using the Finite Integration Technique (FIT). In particular, the design of bonding wires with respect to thermal degradation is investigated. Instead of resolving the wires by the computational grid, lumped element representations are introduced as point-to-point connections in the spatially distributed model. Fabrication tolerances lead to uncertainties of the wires' parameters and influence the operation and reliability of the final product. Based on geometric measurements, the resulting variability of the wire temperatures is determined using the stochastic electrothermal field-circuit model.

  • Název v anglickém jazyce

    Electrothermal simulation of bonding wire degradation under uncertain geometries

  • Popis výsledku anglicky

    In this paper, electrothermal field phenomena in electronic components are considered. This coupling is tackled by multiphysical field simulations using the Finite Integration Technique (FIT). In particular, the design of bonding wires with respect to thermal degradation is investigated. Instead of resolving the wires by the computational grid, lumped element representations are introduced as point-to-point connections in the spatially distributed model. Fabrication tolerances lead to uncertainties of the wires' parameters and influence the operation and reliability of the final product. Based on geometric measurements, the resulting variability of the wire temperatures is determined using the stochastic electrothermal field-circuit model.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2016

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)

  • ISBN

    978-3-9815370-6-2

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    1297-1302

  • Název nakladatele

    IEEE

  • Místo vydání

    Dresden, Germany

  • Místo konání akce

    Drážďany

  • Datum konání akce

    14. 3. 2016

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000382679200240