Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Hybrid architecture of microcode memory Built-In Self Test

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F18%3APU127809" target="_blank" >RIV/00216305:26220/18:PU127809 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://www.elektrorevue.cz/cz/clanky/informacni-technologie/0/hybrid-architecture-of-microcode-memory-built-in-self-test/" target="_blank" >http://www.elektrorevue.cz/cz/clanky/informacni-technologie/0/hybrid-architecture-of-microcode-memory-built-in-self-test/</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Hybrid architecture of microcode memory Built-In Self Test

  • Popis výsledku v původním jazyce

    March tests are a popular method to test semiconductor memory for defects, but they’re originally designed to only work on bit-oriented memories. For practical use march tests have been extended for use on word-oriented memories. This extension is done by either using multiple test data vectors and their inversions, or by using serial march test. These tests access each data word in memory as a shift register. This paper is proposing a microcode-controlled built-in self test architecture that allows us to use both access methods during a single test.

  • Název v anglickém jazyce

    Hybrid architecture of microcode memory Built-In Self Test

  • Popis výsledku anglicky

    March tests are a popular method to test semiconductor memory for defects, but they’re originally designed to only work on bit-oriented memories. For practical use march tests have been extended for use on word-oriented memories. This extension is done by either using multiple test data vectors and their inversions, or by using serial march test. These tests access each data word in memory as a shift register. This paper is proposing a microcode-controlled built-in self test architecture that allows us to use both access methods during a single test.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>ost</sub> - Ostatní články v recenzovaných periodicích

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20206 - Computer hardware and architecture

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Elektrorevue - Internetový časopis (http://www.elektrorevue.cz)

  • ISSN

    1213-1539

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    20

  • Číslo periodika v rámci svazku

    2

  • Stát vydavatele periodika

    CZ - Česká republika

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    36-41

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus