Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Comparing main spectroscopic databases

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F18%3APU127875" target="_blank" >RIV/00216305:26220/18:PU127875 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://www.feec.vutbr.cz/EEICT/archiv/sborniky/EEICT_2018_sbornik.pdf" target="_blank" >http://www.feec.vutbr.cz/EEICT/archiv/sborniky/EEICT_2018_sbornik.pdf</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Comparing main spectroscopic databases

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This article deals with comparing of data in the main world spectroscopic databases NIST and Kurucz. Our target was to calculate differences in the ratio of Stark broadening and function F which depends on electron density, temperature and pressure. Stark broadening is one of pressure broadenings of spectral lines which arise from the collisions of the emitters with neighboring particles. Stark broadening is due to charged perturbers. We developed the program NKrov for the comparison of databases with the help of regular expressions and the program awk. There were some differences found in input data for the silicon between NIST and Kurucz databases. Our results can be used in further research on silicon spectral lines.

  • Název v anglickém jazyce

    Comparing main spectroscopic databases

  • Popis výsledku anglicky

    This article deals with comparing of data in the main world spectroscopic databases NIST and Kurucz. Our target was to calculate differences in the ratio of Stark broadening and function F which depends on electron density, temperature and pressure. Stark broadening is one of pressure broadenings of spectral lines which arise from the collisions of the emitters with neighboring particles. Stark broadening is due to charged perturbers. We developed the program NKrov for the comparison of databases with the help of regular expressions and the program awk. There were some differences found in input data for the silicon between NIST and Kurucz databases. Our results can be used in further research on silicon spectral lines.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10305 - Fluids and plasma physics (including surface physics)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA15-14829S" target="_blank" >GA15-14829S: Studium termodynamických a elektromagnetických procesů ve spínacích přístrojích nízkého napětí</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of the 24th Conference Student EEICT 2018

  • ISBN

    978-80-214-5614-3

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    493-497

  • Název nakladatele

    Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    26. 4. 2018

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    CST - Celostátní akce

  • Kód UT WoS článku