Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Sensitivity analysis of a modular circularly polarized antenna array for 60 GHz band

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F20%3APU137675" target="_blank" >RIV/00216305:26220/20:PU137675 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://ieeexplore.ieee.org/document/9253960" target="_blank" >https://ieeexplore.ieee.org/document/9253960</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.23919/MIKON48703.2020.9253960" target="_blank" >10.23919/MIKON48703.2020.9253960</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Sensitivity analysis of a modular circularly polarized antenna array for 60 GHz band

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In the paper, outputs of the sensitivity analysis performed for a 60 GHz circularly polarized antenna array are presented. The analysis identifies the dimensions and the positions of the coupling slots between the layers, the dimensions of the patches and the width of waveguides as critical. Precision of the manufacturing technologies has to be better than 0.1 mm to obtain acceptable parameters of the whole array.

  • Název v anglickém jazyce

    Sensitivity analysis of a modular circularly polarized antenna array for 60 GHz band

  • Popis výsledku anglicky

    In the paper, outputs of the sensitivity analysis performed for a 60 GHz circularly polarized antenna array are presented. The analysis identifies the dimensions and the positions of the coupling slots between the layers, the dimensions of the patches and the width of waveguides as critical. Precision of the manufacturing technologies has to be better than 0.1 mm to obtain acceptable parameters of the whole array.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2020

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of MIKON 2020

  • ISBN

    978-83-949421-7-5

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    56-60

  • Název nakladatele

    IEEE

  • Místo vydání

    Varšava, Polsko

  • Místo konání akce

    Varšava

  • Datum konání akce

    5. 10. 2020

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000646195700013