Surface morphology and X-ray photoelectron spectroscopy of BiFeO3 thin films deposited on top of Ta2O5/Si layers
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F21%3APU141315" target="_blank" >RIV/00216305:26220/21:PU141315 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://www.e3s-conferences.org/articles/e3sconf/abs/2021/71/e3sconf_wfsdi2021_04009/e3sconf_wfsdi2021_04009.html" target="_blank" >https://www.e3s-conferences.org/articles/e3sconf/abs/2021/71/e3sconf_wfsdi2021_04009/e3sconf_wfsdi2021_04009.html</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1051/e3sconf/202129504009" target="_blank" >10.1051/e3sconf/202129504009</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Surface morphology and X-ray photoelectron spectroscopy of BiFeO3 thin films deposited on top of Ta2O5/Si layers
Popis výsledku v původním jazyce
In this study a comparison of the topography of BiFeO3 (BFO) thin films deposited on tantalum pentoxide substrates of different thicknesses is provided. The Ta2O5 substrates had a roughness increasing with the film thickness. The relationship between substrates of different topography but the same composition with the quality of the growing bismuth ferrite film is estimated. For the first time the topography estimation of BFO on Ta2O5 is presented. The difference in temperature expansion coefficients leads to intensive evaporation of bismuth ferrite from the surface during annealing. XPS analysis is provided for asdeposited and annealed BFO layers.
Název v anglickém jazyce
Surface morphology and X-ray photoelectron spectroscopy of BiFeO3 thin films deposited on top of Ta2O5/Si layers
Popis výsledku anglicky
In this study a comparison of the topography of BiFeO3 (BFO) thin films deposited on tantalum pentoxide substrates of different thicknesses is provided. The Ta2O5 substrates had a roughness increasing with the film thickness. The relationship between substrates of different topography but the same composition with the quality of the growing bismuth ferrite film is estimated. For the first time the topography estimation of BFO on Ta2O5 is presented. The difference in temperature expansion coefficients leads to intensive evaporation of bismuth ferrite from the surface during annealing. XPS analysis is provided for asdeposited and annealed BFO layers.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
20506 - Coating and films
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/LM2018110" target="_blank" >LM2018110: Výzkumná infrastruktura CzechNanoLab</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2021
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
International Scientific Forum on Sustainable Development and Innovation (WFSDI 2021)
ISBN
—
ISSN
2267-1242
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
1-7
Název nakladatele
EDP Sciences
Místo vydání
neuveden
Místo konání akce
Patras
Datum konání akce
10. 7. 2021
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—