Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Automatically-Designed Fault-Tolerant Systems: Failed Partitions Recovery

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F21%3APU142922" target="_blank" >RIV/00216305:26230/21:PU142922 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://www.fit.vut.cz/research/publication/12529/" target="_blank" >https://www.fit.vut.cz/research/publication/12529/</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/EWDTS52692.2021.9580996" target="_blank" >10.1109/EWDTS52692.2021.9580996</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Automatically-Designed Fault-Tolerant Systems: Failed Partitions Recovery

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper presents and describes our design automation toolkit for automatic synthesis of fault tolerant systems from unhardened systems. The toolkit is composed of various parts and tools and its aim is to design its internal algorithms in such way to be reusable among different HW description languages. In this paper, VHDL description is used to present the possibilities of the toolkit. The experimental part of the paper presents automatic synthesis of a benchmark system into a limited chip area. The optimization goal was to maximize the median time to failure (a.k.a. t50) parameter. The main part of the experimental activities comprises incorporation of a partial dynamic reconfiguration controller into the system design to recover the selected component of the system. Two systems utilizing recovery with the usage of the FPGA dynamic reconfiguration technique show promising results in terms of reliability. The recovered system, in which the controller is apart of the FPGA (e.g. in a different radiation-hardened chip), achieves by 70% better t50 parameter, compared to the system without recovery.

  • Název v anglickém jazyce

    Automatically-Designed Fault-Tolerant Systems: Failed Partitions Recovery

  • Popis výsledku anglicky

    This paper presents and describes our design automation toolkit for automatic synthesis of fault tolerant systems from unhardened systems. The toolkit is composed of various parts and tools and its aim is to design its internal algorithms in such way to be reusable among different HW description languages. In this paper, VHDL description is used to present the possibilities of the toolkit. The experimental part of the paper presents automatic synthesis of a benchmark system into a limited chip area. The optimization goal was to maximize the median time to failure (a.k.a. t50) parameter. The main part of the experimental activities comprises incorporation of a partial dynamic reconfiguration controller into the system design to recover the selected component of the system. Two systems utilizing recovery with the usage of the FPGA dynamic reconfiguration technique show promising results in terms of reliability. The recovered system, in which the controller is apart of the FPGA (e.g. in a different radiation-hardened chip), achieves by 70% better t50 parameter, compared to the system without recovery.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20206 - Computer hardware and architecture

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2021

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    2021 IEEE East-West Design and Test Symposium, EWDTS 2021 - Proceedings

  • ISBN

    978-1-6654-4503-0

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    8

  • Strana od-do

    26-33

  • Název nakladatele

    Institute of Electrical and Electronics Engineers

  • Místo vydání

    Batumi

  • Místo konání akce

    Batumi

  • Datum konání akce

    10. 9. 2021

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku