THICKNESS DETERMINATION OF CORROSION LAYERS ON Fe USING XPS DEPTH PROFILING
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26310%2F18%3APU129210" target="_blank" >RIV/00216305:26310/18:PU129210 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.17222/mit.2016.180" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.17222/mit.2016.180</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.17222/mit.2016.180" target="_blank" >10.17222/mit.2016.180</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
THICKNESS DETERMINATION OF CORROSION LAYERS ON Fe USING XPS DEPTH PROFILING
Popis výsledku v původním jazyce
The study deals with the methodology and thickness determination of the corrosion layers of ferritic steel samples using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) equipped with the ion-gun source system enabling destructive depth profiling. It is well known that XPS is one of the most often used techniques for determining both the thickness and chemical composition of passive films or corrosive layers. Unfortunately, the thickness of ion-gun-etched layers can only be estimated for simple samples and standards. Corrosion layers are heterogeneous and vary in composition; therefore, the etching rate is specific for each corrosion layer. The results of this work provide the possibility for a fast and easy determination of the ion-gun sputtering effect with exact settings for multi-compound chemical structures. The knowledge related to the thickness of corrosion or passivation layers would help greatly in their characterization
Název v anglickém jazyce
THICKNESS DETERMINATION OF CORROSION LAYERS ON Fe USING XPS DEPTH PROFILING
Popis výsledku anglicky
The study deals with the methodology and thickness determination of the corrosion layers of ferritic steel samples using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) equipped with the ion-gun source system enabling destructive depth profiling. It is well known that XPS is one of the most often used techniques for determining both the thickness and chemical composition of passive films or corrosive layers. Unfortunately, the thickness of ion-gun-etched layers can only be estimated for simple samples and standards. Corrosion layers are heterogeneous and vary in composition; therefore, the etching rate is specific for each corrosion layer. The results of this work provide the possibility for a fast and easy determination of the ion-gun sputtering effect with exact settings for multi-compound chemical structures. The knowledge related to the thickness of corrosion or passivation layers would help greatly in their characterization
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
20501 - Materials engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/LO1211" target="_blank" >LO1211: Centrum materiálového výzkumu na FCH VUT v Brně - udržitelnost a rozvoj</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2018
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Materiali in tehnologije
ISSN
1580-2949
e-ISSN
1580-3414
Svazek periodika
52
Číslo periodika v rámci svazku
5
Stát vydavatele periodika
SI - Slovinská republika
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
537-540
Kód UT WoS článku
000447364400004
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85057323380