Aplikace rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli pro plasmoniku

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26620%2F13%3APU104381" target="_blank" >RIV/00216305:26620/13:PU104381 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Aplikace rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli pro plasmoniku
Popis výsledku v původním jazyce
Článek se zabývá měřením povrchových plazmonových polaritonů pomocí rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli. Interference povrchových plazmonových polaritonů jsou měřeny na strukturách sestavených z dvojice excitačních drážek připravených fokusovaným iontovým svazkem na kovovém povrchu. Interferenční obrazce v oblasti mezi excitačními drážkami jsou závislé na vzájemném úhlu drážek a polarizaci dopadajícího elektromagnetického svazku.
Název v anglickém jazyce
Application of scanning near field optical microscope for plasmonics
Popis výsledku anglicky
The article deals with measurements of surface plasmon polaritons via scanning near field optical microscope. Interference patterns of surface plasmon polaritons have been measured between pairs of excitation grooves fabricated by the focused ion beam onthe metallic surface. Interference patters in the space among excitation grooves depend on the mutual angle between the grooves and the polarization state of the incident electromagnetic field.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)