Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Dual-polarization interference microscopy for advanced quantification of phase associated with the image field

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26620%2F18%3APU126352" target="_blank" >RIV/00216305:26620/18:PU126352 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/61989592:15310/18:73587161

  • Výsledek na webu

    <a href="https://www.osapublishing.org/ol/abstract.cfm?uri=ol-43-3-427" target="_blank" >https://www.osapublishing.org/ol/abstract.cfm?uri=ol-43-3-427</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1364/OL.43.000427" target="_blank" >10.1364/OL.43.000427</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Dual-polarization interference microscopy for advanced quantification of phase associated with the image field

  • Popis výsledku v původním jazyce

    A new concept of dual-polarization spatial light interference microscopy (DPSLIM) is proposed and demonstrated experimentally. The method works with two orthogonally polarized modes in which signal and reference waves are combined to realize the polarization-sensitive phase-shifting, thus allowing advanced reconstruction of the phase associated with the image field. The image phase is reconstructed directly from four polarization encoded interference records by a single step processing. This is a progress compared with common methods, in which the phase of the image field is reconstructed using the optical path difference and the amplitudes of interfering waves, which are calculated in multiple-step processing of the records. The DPSLIM is implemented in a common-path configuration using a spatial light modulator, which is connected to a commercial microscope Nikon E200. The optical performance of the method is demonstrated in experiments using both polystyrene microspheres and live LW13K2 cells.

  • Název v anglickém jazyce

    Dual-polarization interference microscopy for advanced quantification of phase associated with the image field

  • Popis výsledku anglicky

    A new concept of dual-polarization spatial light interference microscopy (DPSLIM) is proposed and demonstrated experimentally. The method works with two orthogonally polarized modes in which signal and reference waves are combined to realize the polarization-sensitive phase-shifting, thus allowing advanced reconstruction of the phase associated with the image field. The image phase is reconstructed directly from four polarization encoded interference records by a single step processing. This is a progress compared with common methods, in which the phase of the image field is reconstructed using the optical path difference and the amplitudes of interfering waves, which are calculated in multiple-step processing of the records. The DPSLIM is implemented in a common-path configuration using a spatial light modulator, which is connected to a commercial microscope Nikon E200. The optical performance of the method is demonstrated in experiments using both polystyrene microspheres and live LW13K2 cells.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Optics Letters

  • ISSN

    0146-9592

  • e-ISSN

    1539-4794

  • Svazek periodika

    43

  • Číslo periodika v rámci svazku

    3

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    427-430

  • Kód UT WoS článku

    000423776600020

  • EID výsledku v databázi Scopus